功能
用于测量电介质、有机物、半导体等各类薄膜以及透明基底上的透明薄膜的膜厚及介电常数（n，k）、组分比等；对材料的各向异性、多层膜、膜层致密性、多孔材料、高分子薄膜等特殊结构的材料具有光学性能的分析能力，可以测量薄膜的各向异性、双折射、散射、Muller矩阵等。
主要技术指标
（1）波长范围：200nm～2100nm
（2）入射角：40°～90°；
（3）可测量温度范围：-70℃～300℃；
（4）样品移动方式：全自动校正；
（5）微光斑：0.1mm-1mm；
（6）膜厚测量范围：覆盖1nm-10µm。